Question
Option 1 : SEM-EDX: scanning electron microscopy with energy-dispersive X-ray analysis / SEM-EDX: ऊर्जा-परिक्षेपी X-किरण विश्लेषण सहित स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शी
Detailed Solution
सही उत्तर SEM-EDX: scanning electron microscopy with energy-dispersive X-ray analysis / SEM-EDX: ऊर्जा-परिक्षेपी X-किरण विश्लेषण सहित स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शी है।
prepsnap.in • Part -AQuestion:
A forensic laboratory receives charred paint flakes from an arson scene. The examiner needs BOTH surface morphology of the flakes and elemental composition of each layer in a single analysis. Which instrumental combination meets both requirements? / अग्निकांड स्थल से जले हुए पेंट के टुकड़े प्रयोगशाला में प्राप्त हुए। परीक्षक को एक ही विश्लेषण में टुकड़ों की सतह-आकृति विज्ञान और प्रत्येक परत की तात्विक संरचना दोनों चाहिए। कौन-सा यांत्रिक संयोजन दोनों आवश्यकताएँ पूरी करता है?
Correct Answer: SEM-EDX: scanning electron microscopy with energy-dispersive X-ray analysis / SEM-EDX: ऊर्जा-परिक्षेपी X-किरण विश्लेषण सहित स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शी
SEM images surface morphology at high magnification while the EDX detector simultaneously records characteristic X-rays for elemental mapping of each paint layer. TEM needs ultra-thin sections, XRF gives no morphology, and AAS needs the sample dissolved and atomised, destroying layer structure. / SEM उच्च आवर्धन पर सतह-आकृति विज्ञान चित्रित करता है जबकि EDX संसूचक प्रत्येक पेंट परत के तात्विक मानचित्रण हेतु अभिलाक्षणिक X-किरणें एक साथ अभिलिखित करता है। TEM हेतु अतिपतली काट आवश्यक है, XRF आकृति विज्ञान नहीं देता, और AAS हेतु नमूना घोलकर परमाणुकृत करना पड़ता है जिससे परत-संरचना नष्ट हो जाती है।