Question
Option 2 : SEM builds its image from secondary and backscattered electrons emitted by the surface, while TEM forms its image from electrons transmitted through an ultrathin specimen / SEM सतह से उत्सर्जित द्वितीयक और पश्च-प्रकीर्णित इलेक्ट्रॉनों से प्रतिबिंब बनाता है, जबकि TEM अति-पतले नमूने से संप्रेषित इलेक्ट्रॉनों से प्रतिबिंब बनाता है
Detailed Solution
सही उत्तर SEM builds its image from secondary and backscattered electrons emitted by the surface, while TEM forms its image from electrons transmitted through an ultrathin specimen / SEM सतह से उत्सर्जित द्वितीयक और पश्च-प्रकीर्णित इलेक्ट्रॉनों से प्रतिबिंब बनाता है, जबकि TEM अति-पतले नमूने से संप्रेषित इलेक्ट्रॉनों से प्रतिबिंब बनाता है है।
Question:
In a forensic laboratory, a gunshot-residue particle must be imaged for its surface morphology while a paint cross-section must be examined for its internal layer structure at atomic resolution. Which statement correctly distinguishes the electron-optical signals used by the two instruments? / एक फोरेंसिक प्रयोगशाला में बंदूक-गोली अवशेष कण की सतही संरचना देखनी है और पेंट के क्रॉस-सेक्शन की परमाण्विक विभेदन पर आंतरिक परत-संरचना देखनी है। दोनों उपकरणों द्वारा प्रयुक्त इलेक्ट्रॉन-प्रकाशीय संकेतों में कौन-सा कथन सही भेद बताता है?
Correct Answer: SEM builds its image from secondary and backscattered electrons emitted by the surface, while TEM forms its image from electrons transmitted through an ultrathin specimen / SEM सतह से उत्सर्जित द्वितीयक और पश्च-प्रकीर्णित इलेक्ट्रॉनों से प्रतिबिंब बनाता है, जबकि TEM अति-पतले नमूने से संप्रेषित इलेक्ट्रॉनों से प्रतिबिंब बनाता है
A scanning electron microscope scans a focused beam over the specimen surface and detects secondary electrons (topography) and backscattered electrons (compositional contrast); the beam never passes through the bulk. A transmission electron microscope passes the beam through a specimen thinner than about 100 nm and images with the transmitted (elastically and inelastically scattered) electrons, reaching atomic resolution near 0.1 nm. / स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शी नमूने की सतह पर केंद्रित किरणपुंज चलाता है और द्वितीयक इलेक्ट्रॉनों (स्थलाकृति) तथा पश्च-प्रकीर्णित इलेक्ट्रॉनों (संघटनात्मक विरोधाभास) का संसूचन करता है; किरणपुंज स्थूल भाग से नहीं गुजरता। संप्रेषण इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शी किरणपुंज को लगभग 100 nm से पतले नमूने से गुजारता है और संप्रेषित इलेक्ट्रॉनों से प्रतिबिंब बनाता है, जिससे लगभग 0.1 nm का परमाण्विक विभेदन मिलता है।