Question
Option 2 : Scanning electron microscopy with energy-dispersive X-ray analysis / ऊर्जा-परिक्षेपी एक्स-रे विश्लेषण सहित स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी
Detailed Solution
सही उत्तर Scanning electron microscopy with energy-dispersive X-ray analysis / ऊर्जा-परिक्षेपी एक्स-रे विश्लेषण सहित स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी है।
Question:
Adhesive stubs lifted from a suspect's hands carry a few micron-sized spherical particles suspected to be gunshot residue. Which single technique both images the individual particles and determines the elements present in each particle? / संदिग्ध के हाथों से उठाए गए चिपकने वाले स्टबों पर कुछ माइक्रोन आकार के गोलाकार कण हैं जिनके गनशॉट अवशेष होने का संदेह है। कौन-सी एकल तकनीक प्रत्येक कण का प्रतिबिंब भी बनाती है और उसमें मौजूद तत्वों का निर्धारण भी करती है?
Correct Answer: Scanning electron microscopy with energy-dispersive X-ray analysis / ऊर्जा-परिक्षेपी एक्स-रे विश्लेषण सहित स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी
SEM images each particle's morphology while the EDX detector reads the characteristic X-rays from the same particle, giving morphology plus elemental composition together; stub lifts cannot be digested for AAS without losing single-particle information, XRF averages the bulk surface, and TEM needs electron-transparent thin specimens. / SEM प्रत्येक कण की आकृति का प्रतिबिंब बनाता है जबकि EDX संसूचक उसी कण से अभिलाक्षणिक एक्स-रे पढ़ता है, जिससे आकृति और तात्विक संघटन एक साथ मिलते हैं; AAS हेतु स्टब का पाचन एकल-कण सूचना नष्ट कर देगा, XRF समग्र सतह का औसत देती है, और TEM हेतु इलेक्ट्रॉन-पारदर्शी पतले प्रतिदर्श चाहिए।