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Question

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Answer (Detailed Solution Below)

Option 4 : The beam passes through an ultra-thin specimen, revealing internal structure / किरण अति-पतले प्रतिदर्श से पार जाती है, जिससे आंतरिक संरचना प्रकट होती है

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Detailed Solution

सही उत्तर The beam passes through an ultra-thin specimen, revealing internal structure / किरण अति-पतले प्रतिदर्श से पार जाती है, जिससे आंतरिक संरचना प्रकट होती है है।

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Question:

Which statement about transmission electron microscopy is correct? / ट्रांसमिशन इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी के बारे में कौन-सा कथन सही है?

1.
It images mainly the surface topography of bulk samples / यह मुख्यतः स्थूल प्रतिदर्शों की सतह स्थलाकृति का प्रतिबिंब बनाती है
2.
It works without any vacuum in the column / यह स्तंभ में बिना किसी निर्वात के काम करती है
3.
Its resolution is poorer than that of a light microscope / इसका विभेदन प्रकाश सूक्ष्मदर्शी से घटिया है
4.
The beam passes through an ultra-thin specimen, revealing internal structure / किरण अति-पतले प्रतिदर्श से पार जाती है, जिससे आंतरिक संरचना प्रकट होती है

Correct Answer: The beam passes through an ultra-thin specimen, revealing internal structure / किरण अति-पतले प्रतिदर्श से पार जाती है, जिससे आंतरिक संरचना प्रकट होती है

TEM forms images from transmitted electrons, demanding ultra-thin electron-transparent specimens and high vacuum, and its resolution far exceeds light microscopy; surface topography imaging is the domain of SEM. / TEM पारगत इलेक्ट्रॉनों से प्रतिबिंब बनाता है, जिसमें अति-पतले इलेक्ट्रॉन-पारदर्शी प्रतिदर्श और उच्च निर्वात आवश्यक हैं, और इसका विभेदन प्रकाश सूक्ष्मदर्शी से कहीं अधिक है; सतह स्थलाकृति प्रतिबिंबन SEM का क्षेत्र है।

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